地質學是對地球結構的研究，包括液態和固態地球、構成地球的巖石以及這些巖石隨時間變化的方式。正如您可能想象的那樣，地質學家花費大量時間觀察巖石，而顯微鏡幫助地質學家看到這些巖石中肉眼看不到的東西。涉及使用顯微鏡的一些特定地質應用包括巖性、巖石學和構造地質學。讓我們來看看每個學科的具體定義，并發現顯微鏡在地質學中所扮演的獨特角色。

巖性：巖石物理特性的研究

巖石的巖性是其物理特征的總和。在地質學課堂上，學生們使用低倍顯微鏡觀察標本的特征或巖性，以通過名稱和類別來識別它。雖然許多地質學家在實驗室中識別巖石，但現場巖石的識別更常與巖性一詞相關聯。

通常記錄的巖石的一些物理特征包括巖石類型、顆粒/碎屑大小、礦物學、顏色、織物和質地。巖性在錄井領域尤為重要，這涉及創建詳細的測井，描述來自正在鉆探的鉆孔的巖屑的物理特征。泥漿記錄儀使用顯微鏡檢查巖屑，巖屑是從鉆孔中釋放出來的小塊固體材料，然后與鉆井泥漿一起帶到地面。使用僅放大 10 倍的顯微鏡，泥漿記錄儀可以確定巖石類型、孔隙類型、是否存在石油痕跡以及巖屑是否可以容納石油或天然氣。這些觀察結果被繪制成一個信息圖表，該圖表作為泥漿記錄的一部分包含在內。

曾經有一段時間巖性和巖相是同義詞，人們仍然將兩者混為一談。巖性側重于描述巖石的宏觀特征，這些特征甚至是肉眼可見的特征，但作為巖石學的一個分支的巖相學注意到細節如此之小，以至于您需要顯微鏡才能看到他們。在現場很難進行徹底的顯微鏡檢查，這就是為什么巖石學更具體地與實驗室環境相關聯的原因。

巖石學：巖石形成條件的研究

巖性側重于列出標本的物理特征，而巖石學側重于識別標本并發現該標本是如何形成的。使用高倍率巖相顯微鏡，地質學家可以研究薄片中的標本，以確定它們的多向色性、雙折射和干涉特性。電子微探針使科學家能夠看到標本的確切化學組成，進一步研究穩定和放射性同位素將有助于了解標本的地球化學演化。

電子微探針，也稱為電子探針微分析儀，利用兩種不同的技術徹底研究樣品。這些技術包括 X 射線光譜和電子顯微鏡：X 射線光譜使用 X 射線激發來分析樣品，而電子顯微鏡使用加速電子束作為照明源。電子微探針的工作原理類似于掃描電子顯微鏡，使科學家能夠發現和分析樣品的元素。巖石學家使用這些數據來確定他們的樣本是火成巖、變質巖還是沉積巖，從而告訴他們巖石開始是如何形成的。

巖石學家使用顯微鏡收集的所有信息使他們能夠確定他們正在研究的巖石的起源。另一方面，構造地質學在更廣泛的范圍內處理這些歷史，不僅揭示樣品的歷史，而且揭示其直接環境甚至行星本身的歷史。

構造地質學：研究歷史巖石幾何學以揭示其歷史

結構地質學家使用顯微鏡檢查巖石的薄片，特別注意樣品的結構。在地質學中，“織物”是指樣品元素的幾何和空間排列。這些模式有助于地質學家了解地質結構，從而揭示巖石內部的弱點、地震發生的可能性、地質地點如何影響地下水流動，甚至是構造板塊如何移動和移動。

巖相顯微鏡在研究巖石質地時特別有用。變質巖和沉積巖是構造地質學研究中很常見的巖石類型，但火成巖的質地也非常有價值。用巖相顯微鏡收集的信息可以深入了解樣品形成的條件以及它經歷變形、折疊和其他改變它的事件的方式。

微觀結構分析的目的主要取決于被分析的巖石類型。研究沉積微結構的科學家想要了解沉積物的沉積條件、樣品過去的環境以及樣品的產地。同時，變質巖的質地有助于科學家確定樣品中發生變形的時間、方式和原因。這一切都歸結為樣本的歷史，這反過來又有助于地質學家了解我們所居住星球的地質結構。

一小塊巖石樣本能告訴我們這么多關于地球結構的信息，這難道不是很神奇嗎？地質學家在幫助我們了解地球歷史方面發揮著很重要的作用，如果沒有顯微鏡的幫助，他們無法做到這一點。顯微鏡讓科學家們能夠看到巖石中的東西，否則他們不會知道那里存在的東西，而地質學研究告訴我們關于地球未來的信息和它對它過去的信息一樣多。